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彼奥德技术总监杨正红先生作为中国代表团出席

彼奥德技术总监杨正红先生作为中国代表团出席

作者:admin    来源:未知    发布时间:2019-06-18 10:35    浏览量:


 
国际音乐之都,以阿尔卑斯山脉及优美自然环境享誉盛名的奥地利,于2019年4月迎来来自世界各地的60余位专家委员相聚一堂。国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(ISO/TC24/SC4)第56次会议于4月12-13日在山城格拉茨举行,对颗粒表征技术的国际标准进行制定与修订。
 

颗粒表征国际标准制定及修订
彼奥德技术总监仪思奇(北京)科技发展有限公司总经理杨正红先生,作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员(SAC/TC168),参加中国代表团并出席本次会议,代表中国参加:
第3工作组(WG3,孔径分布和孔隙率)
第8工作组(WG8,图像法粒度分析)
第14工作组(WG14,超声法粒度分析)
第17工作组(WG17,zeta电位测定方法)
等相关领域的标准讨论和修订。
杨正红先生成为ISO/TC24/SC4注册会员

 
杨正红总经理欧洲之旅

杨正红先生在德国参加全球规模最大的粉体机械加工及分析技术展(POWTECH 2019)之后,前往奥地利参加ISO会议。

会议期间,杨正红先生与ISO官员Dr.Matthias Thommes教授(埃尔朗根-纽伦堡大学,FAU,图左)和Dr.Andrei Dukhin(美国分散技术公司CEO,图左右)进行了学术交流,并就对中国用户的超声粒度分析应用支持达成一致。
 

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